Publicación:
Extended focused image in white light scanning interference microscopy

Portada

Miniatura
172.1 KB
Scopus - Document details - Extended focused image in white light scanning interference microscopy.pdf
application/pdf PDF open accessFLIP FLIP

Citas bibliográficas

Gestores Bibliográficos

Mendeley

Indexadores

Google
Microsoft Academic

Código QR

QR

Métricas

Autores

Marrugo Hernández, Andrés Guillermo

Altamar Mercado, Hernando Rafael

Patiño Vanegas, Alberto

Autor corporativo

Recolector de datos

Otros/Desconocido

Director audiovisual

Editor

Tipo de Material

Artículo de revista

Fecha

2019

Citación

Altamar-Mercado, H., Patiño-Vanegas, A., & Marrugo, A. G. (2019, June). Extended focused image in white light scanning interference microscopy. In Imaging Systems and Applications (pp. ITh1C-3). Optica Publishing Group.

Título de serie/ reporte/ volumen/ colección

Es Parte de

Resumen en español

We propose a method to obtain a fringe-free extended focused image in white light scanning interference microscopy based on processing the stack of images over a range within the coherence length of the source. © 2019 The Author(s).

Descripción

Notas

Es basado en (relación)

Es la base de (relación)

URL del Recurso

URI

https://hdl.handle.net/20.500.12585/12241

Identificador ISBN

Identificador ISSN

Identificador DOI

Altamar-Mercado, H., Patiño-Vanegas, A., & Marrugo, A. G. (2019, June). Extended focused image in white light scanning interference microscopy. In Imaging Systems and Applications (pp. ITh1C-3). Optica Publishing Group.

ODS

Página de inicio

Es Parte del Libro

Colecciones

Productos de investigación