Listar por tema "Interferometry;"

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    • Extended focused image in white light scanning interference microscopy 

      Altamar-Mercado, Hernando; Patiño-Vanegas, Alberto; Marrugo, Andrés G. (Cartagena de Indias, 2019)
      We propose a method to obtain a fringe-free extended focused image in white light scanning interference microscopy based on processing the stack of images over a range within the coherence length of the source. © 2019 The ...

      Universidad Tecnológica de Bolívar - 2017 Institución de Educación Superior sujeta a inspección y vigilancia por el Ministerio de Educación Nacional. Resolución No 961 del 26 de octubre de 1970 a través de la cual la Gobernación de Bolívar otorga la Personería Jurídica a la Universidad Tecnológica de Bolívar.