ListarInvestigaciones por tema "Fault detection"

Mostrando ítems 1-1 de 1

    • Physical-aware pattern selection for stuck-at faults 

      Patino O.A.; Martínez-Santos, Juan Carlos (Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2017)
      The stuck-at faults are basic faults that fail the chips. Various defects in the circuit can develop into stuck-at faults. To detect more defects caused by stuck-at faults, some of the fault sites may need to be detected ...

      Universidad Tecnológica de Bolívar - 2017 Institución de Educación Superior sujeta a inspección y vigilancia por el Ministerio de Educación Nacional. Resolución No 961 del 26 de octubre de 1970 a través de la cual la Gobernación de Bolívar otorga la Personería Jurídica a la Universidad Tecnológica de Bolívar.